[email protected]
Θα απαντήσουμε εντός 24 ωρών
ACS 6.49 €
DHL courier 9.99 €
Speedex 5.99 €
Σημείο ACS 6.49 €
Elta 3.99 €
Σημείο Elta 3.99 €
Box Now 3.99 €
Επικοινωνία
Πώς να κάνετε αγορές;
Βοήθεια
Παράδοση
ACS 6.49 €
DHL courier 9.99 €
Speedex 5.99 €
Σημείο ACS 6.49 €
Elta 3.99 €
Σημείο Elta 3.99 €
Box Now 3.99 €
Οδηγός αγορών
Είμαστε εδώ για εσάς!
[email protected]
Ο λογαριασμός μου
Γίνετε μέλος μιας κοινότητας βιβλιόφιλων από όλο τον κόσμο και επωφεληθείτε από πολλά προνόμια.
Δημιουργία δωρεάν λογαριασμού
▸
Άδειο :-(
0
Stress-Induced Phenomena in Metallization
Γλώσσα
Αγγλική
Αγγλική
Βιβλίο
Σκληρόδετη βιβλιοδεσία
These proceedings contain new research results and advances in basic understanding of stress-induced...
Πλήρης περιγραφή
Κωδικός Libristo: 01390898
?
482 b
482 b
192.10
€
50% πιθανότητα
θα ψάξουμε όλο τον κόσμο
Πότε θα λάβω το βιβλίο;
30 ημέρες για την επιστροφή των προϊόντων
These proceedings contain new research results and advances in basic understanding of stress-induced phenomena in metallization. Papers cover results on electromigration, thermal stresses and void formation in copper-low k interconnect structures.
Πληροφορίες για το βιβλίο
Πλήρες όνομα
Stress-Induced Phenomena in Metallization
Συγγραφέας
Paul S. Ho, Shefford P. Baker, Tomoji Nakamura, Cynthia A. Volkert
Γλώσσα
Αγγλική
Αγγλική
Βιβλιοδεσία
Βιβλίο - Σκληρόδετη βιβλιοδεσία
Ημερομηνία έκδοσης
2005
Αριθμός σελίδων
250
EAN
9780735402256
Κωδικός Libristo
01390898
ΕΕκδοτικός οίκος
Springer, Berlin
Βάρος
1280
Διαστάσεις
162 x 234
