[email protected] Θα απαντήσουμε εντός 24 ωρών

[email protected]

ACS 6.49 € DHL courier 9.99 € Speedex 5.99 € Σημείο ACS 6.49 € Elta 3.99 € Σημείο Elta 3.99 € Box Now 3.99 €

Επικοινωνία phone

Πώς να κάνετε αγορές;

Βοήθεια

Ο λογαριασμός μου

▸ Άδειο :-(

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Name: Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 01421940
Price: 194.62 EUR
Availability: InStock

Alvin W. Czanderna

Theodore E. Madey

Cedric J. Powell

Γλώσσα

Αγγλική

Βιβλίο Χαρτόδετη βιβλιοδεσία

Κωδικός Libristo: 01421940

ΕΕκδοτικός οίκος Springer-Verlag New York Inc., Δεκέμβριος 2010

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first b... Πλήρης περιγραφή

Κωδικός Libristo: 01421940

488 b

194.62 €

Εξωτερικός αποθηκευτικός χώρος σε μικρές ποσότητες Αποστέλλουμε σε 13-16 ημέρες

30 ημέρες για την επιστροφή των προϊόντων

Μπορεί να σας ενδιαφέρει

Practical Gardening Jackie Matthews

/ Σκληρόδετη βιβλιοδεσία

23.10 €

New Inside Out Upper Intermediate Level Teachers DVD Book Sue Kay

/ Χαρτόδετη βιβλιοδεσία

15.12 €

Russische Baukunst A. Elasberg

/ Χαρτόδετη βιβλιοδεσία

33.39 €

Midi in Revolution Hubert C. Johnson

/ Σκληρόδετη βιβλιοδεσία

167.28 €

Meadow View Road CARTER JOHNSON

/ Χαρτόδετη βιβλιοδεσία

31.47 €

Dynamic Characterisation of Analogue-to-Digital Converters Dominique Dallet

/ Χαρτόδετη βιβλιοδεσία

194.62 €

Education Outreach and Public Engagement Erin Dolan

/ Χαρτόδετη βιβλιοδεσία

64.16 €

Moments of Mindfulness: African Wisdom DANIELLE FOLLMI

/ Σκληρόδετη βιβλιοδεσία

10.48 €

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.

Πληροφορίες για το βιβλίο

Πλήρες όνομα Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Συγγραφέας Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell

Γλώσσα

Αγγλική

Βιβλιοδεσία Βιβλίο - Χαρτόδετη βιβλιοδεσία

Ημερομηνία έκδοσης 2010

Αριθμός σελίδων 430

EAN 9781441932990

ISBN 1441932992

Κωδικός Libristo 01421940

ΕΕκδοτικός οίκος Springer-Verlag New York Inc.

Βάρος 1390

Διαστάσεις 152 x 229 x 25

Κατηγορία

Technology, Engineering, Agriculture > Mechanical engineering & materials > Materials science > Testing of materials

Technology, Engineering, Agriculture > Electronics & communications engineering > Electronics engineering > Electronic devices & materials

History & Archaeology > History > Military history

Mathematics & Science > Chemistry > Analytical chemistry

Χαρίστε αυτό το βιβλίο σήμερα

Είναι εύκολο

1 Προσθέστε το βιβλίο στο καλάθι σας και επιλέξτε παράδοση ως δώρο 2 Ως ανταμοιβή θα σας στείλουμε ένα κουπόνι 3 Το βιβλίο θα φτάσει στη διεύθυνση του παραλήπτη

Παράδοση

Οδηγός αγορών